薄膜反射儀可以實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的厚度檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)了高精度檢測(cè)服務(wù)。我們使用超聲波測(cè)厚儀可以幫助我們更好的實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)，同時(shí)降低對(duì)設(shè)備的破壞。我們可以利用這款設(shè)備實(shí)現(xiàn)的檢測(cè)，通過(guò)該設(shè)備我們會(huì)還可以實(shí)現(xiàn)非接觸檢測(cè)，幫助設(shè)備實(shí)現(xiàn)的檢測(cè)服務(wù)。
　　薄膜反射儀的薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)可以用來(lái)進(jìn)行10nm~250?m的膜厚分析測(cè)量，對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同，可以分析單層或多層膜厚。
　　薄膜反射儀主要功能及應(yīng)用范圍：
　　1. 有機(jī)、無(wú)機(jī)光電材料的結(jié)構(gòu)和性能研究
　　2. 多晶薄膜物相鑒定、取向分析、晶粒大小測(cè)定、薄層次序分析
　　3. 薄膜厚度、表面及界面粗糙度、密度
　　薄膜反射儀技術(shù)特征：
　　★微電腦控制、大液晶顯示
　　★進(jìn)口高精度傳感器，保證了測(cè)試精度
　　★嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持 各種非標(biāo)定制
　　★測(cè)量頭自動(dòng)升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
　　★手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式，更方便客戶選擇
　　★配備微型打印機(jī)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印， 方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
　　★打印大值、小值、平均值及每次測(cè)量結(jié)果，方便 用戶分析數(shù)據(jù)
　　★儀器自動(dòng)保存至多100組測(cè)試結(jié)果，隨時(shí)查看并打印
　　★標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備
　　★測(cè)厚儀配備自動(dòng)進(jìn)樣器，可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量，人為誤差小
　　★專業(yè)軟件提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析，準(zhǔn)確直觀地將 測(cè)試結(jié)果展示給用戶
　　★配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和 數(shù)據(jù)傳輸
　　薄膜反射儀關(guān)鍵部件均選用進(jìn)口器件，濱松無(wú)臭氧環(huán)保型氘燈，德國(guó)歐士朗鎢燈，美國(guó)派來(lái)茲?rùn)z測(cè)器。保證了儀器性能的高可靠性。薄膜反射儀具有開(kāi)放式的樣品室設(shè)計(jì)，反射樣品架、固體樣品架、于光學(xué)鍍膜高反和低反檢測(cè)、帶通濾光片以及眼鏡片鍍膜曲線測(cè)試。